带宽 | 差分电压 | 共模电压 | 共模抑制比 |
高达 1 GHz | 高达 ±2500 V | 60 kV | 高达 160 dB (100,000,000:1) |
型号 | 带宽 | 差分电压 | 共模电压 | 共模抑制比 | 光纤电缆长度 | 报价 |
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TIVP02 | 200 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 2 meters | US $10,600 配置和报价 |
TIVP02L | 200 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 10 meters | US $15,200 配置和报价 |
TIVP05 | 500 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 2 meters | US $20,000 配置和报价 |
TIVP05L | 500 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 10 meters | US $24,100 配置和报价 |
TIVP1 | 1 GHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 2 meters | US $29,000 配置和报价 |
TIVP1L | 1 GHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 10 meters | US $33,100 配置和报价 |
价格:价格如有变更,恕不另行通知。
主要指标 | Tektronix TIVP(带 TIVPMX50X 端部*) | Tektronix TIVH(带 MMCX250X 端部*) 不再可订购 | Tektronix THDP0200 |
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应用 | 高压测 VGS,高端 VDS, 宽禁带(GaN 和 SiC)检定,SMPS 优化,温度测试(使用 SMA 电缆) | 高压测 VGS, 宽禁带(GaN 和 SiC)检定,SMPS 优化 | 通用, 基于 Si 和 IGBT 的电力电子设备 |
带宽 | 200 MHz,500 MHz,1 GHz | 200 MHz,500 MHz,800 MHz | 160 MHz,200 MHz |
上升时间 | 450ps,850ps,2ns | 450ps,850ps,2ns | 1.75ns |
CMRR @DC | 150 dB | 150 dB | 80 dB |
CMRR @100 MHz | 100 dB | 85 dB | 26 dB |
差分 电压范围 | 通过可变增益调节 高达 3.3kV | 通过端部衰减调节 高达 2.5kV | 150V,1500V |
共模电压范围 | ±60kV | ±60kV | ±1500V |
偏置电压范围 | ±250V* | ±250V* | 50X 示波器输入偏置范围 ±50V(典型值) |
电压降额 | 25 MHz以内全量程,800 MHz 时为 20V* | 25 MHz以内全量程,800 MHz 时为 20V* | 1 MHz以内全量程, 100 MHz 时为 25V |
输入阻抗 | 10 MΩ || 3 pF * | 10 MΩ || 2 pF | 10 MΩ || 2 pF |
工作温度范围 | 0°C 至 50°C(传感器头) | 0°C 至 70°C(传感器头) | 0°C 至 40°C |
示波器兼容性 | 仅限 4/5/6 系列 MSO | 所有 TekVPI 示波器 (包括 4/5/6 系列 MSO) | 所有 TekVPI 示波器 (包括 4/5/6 系列 MSO) |
*出于比较目的选定最接近 THDP0200 的值
测量系统可用于以下泰克示波器。需要使用示波器1.28软件版本或更高版本。
应用案例:
电源上的浮动测量
在半桥功率转换器中进行高压测信号测量具有挑战性,因为参考测量的源端或集端会快速上下震荡。SiC 和 GaN FET 等宽禁带器件甚至更难测量,因其可以在几纳秒内切换到高电压。快速变化的共模电压所产生的噪声会泄漏到差分测量中,并隐藏 VGS 和 VDS 的真实情况。IsoVu 探头具有无与伦比的全带宽共模抑制性能,通常一次即可让信号的真实情况一览无余。

通过分流电阻测量电流
通过测量分流电阻两端的差分电压可轻松获得准确的电流测量值。但由于受到共模电压的影响,这会是非常严峻的挑战。IsoVu 凭借其高共模电压量程和高共模抑制能力,能完成其他产品不能完成的测试。

调试 ESD 问题
如果超出功能测试范围来解决 ESD 故障根本原因,可能会不尽如人意。使用传统电探头时,即使示波器位于法拉第笼外,ESD 放电也会耦合到探头中并沿电缆向下传播至示波器。示波器上看到的任何波形均不能代表测试点实际发生的情况。但受益于光学隔离技术,IsoVu 第 2 代探头可以防止耦合,并且可以在 ESD 和 EFT 测试期间提供更准确的 DUT行为,而不仅仅是简单的系统测试。
