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Keithley 700 系列半导体开关系统
Keithley 700 系列半导体开关系统
半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。 我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。
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Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
Keithley 4200A-SCS 参数分析仪
使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。
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Keithley PCT 参数化波形记录器配置
Keithley PCT 参数化波形记录器配置
开发和使用 MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley 高功率参数化波形记录器系列的配置支持所有的设备类型和测试参数。 Keithley 参数化波形记录器配置包括检定工程师快速开发全面测试系统所需的一切。
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Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件
Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件
Keithley 自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境，旨在用于器件检定、参数化测试、可靠性测试，甚至是简单的功能测试。ACS 支持各种 Keithley 仪器和系统、硬件配置和测试设置，从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化参数测试仪。有了 ACS，用户即可随时并快速地执行测试，而无需具备编程。
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S40-parametric-test-system
S40-parametric-test-system
S530 参数化测试系统 适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境，提供业界领先的测试计划灵活性、自动化、探头测试台集成以及测试数据管理功能。Keithley 拥有超过 30 年的专业经验，针对这些测试解决方案的设计向全世界的客户提供各种标准和自定义参数化测试仪。
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